2830 ZT

2830 ZT, PANalytical
特点

2830 ZT 圆晶分析仪随机附带了帕纳科的 SuperQ 软件,该软件包含了一个专门针对多层分析设计的软件包。

2830 ZT, PANalytical
规格

2830 ZT 圆晶分析仪拥有卓越的轻元素分析性能,它所具备的关键功能可以最大化提高轻元素分析的灵敏度和稳定性。

2830 ZT, PANalytical
它能为您做什么?

该仪器的软件具备多种模块,这些模块能够方便研究者和工程师进行灵活的操作。

SuperQ Thin Film, PANalytical
SuperQ 薄膜

SuperQ 薄膜 是配合帕纳科基于 XRF 测试机理的晶片测试使用的软件平台。它可以比以往更加轻松地进行准确的过程控制和晶片分析。

XPert ProThin Film, PANalytical
现在用于薄膜计量

X 射线计量是在大规模生产和开发中用于化合物半导体分析的理想工具。

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